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  • ESD仿真方法与设计流程

    ESD仿真方法与设计流程 📚 Semenov 补充:本页基于 Semenov 等《ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies》Ch.4,系统介绍 ESD 保护网络的拓扑设计、分布式增强网络架构、器件仿真与校准方法、混合模式(device-circuit)仿真、芯片级 ESD 仿真以及测试芯片开发的设计流程。 前后关系 前置知识: ESD基础概念与设计原则 — ESD 物理本质与设计原则 ESD测试模型与系统级模型 — ESD 模型参数 ESD器件Snapback机制与失效判据 — 保护器件物理...

  • ESD先进CMOS技术挑战

    ESD先进CMOS技术挑战 📚 Semenov 补充:本页基于 Semenov 等《ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies》Ch.1 §4-5,系统介绍先进 CMOS 工艺缩放带来的 ESD 可靠性挑战,重点涵盖 Cu 互连、low-k ILD 和 ESD 设计窗口的缩窄效应。与 ESD基础概念与设计原则 的 Voldman 视角互补。 前后关系 前置知识: ESD基础概念与设计原则 — ESD 物理本质与基本设计原则 CMOS工艺与器件 — CMOS 工艺基础 本书内部链条: 先进CMO...

  • ESD器件Snapback机制与失效判据

    ESD器件Snapback机制与失效判据 📚 Semenov 补充:本页基于 Semenov 等《ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies》Ch.3,系统介绍 ESD 保护器件的 snapback 物理机制、栅/衬底触发技术、闩锁与 burn-in 效应、以及三种 ESD 失效判据(It2​ 电流判据、Ioff​ 漏电判据、Tfail​ 温度判据)。 前后关系 前置知识: ESD基础概念与设计原则 — ESD 物理本质 ESD先进CMOS技术挑战 — 工艺缩放的 ESD 挑战 pn结电流电压...

  • ESD电源钳位电路设计

    ESD电源钳位电路设计 概述 Ch.4 将 Ch.3 的 ESD 器件 集成到钳位电路(clamp)层面。钳位电路是 ESD 保护层次中的第三级:它将分布式 ESD 器件与辅助电路(触发电路、电压基准、驱动电路)结合,形成可用的 IP 库单元。 ESD 钳位的关键特征参数: 触发电压 Vt1​ — 进入高电流态的起始电压 保持电压 Vh​ — snapback 后的平台电压 瞬态响应 — 开启时间、电压波形 DC 耐压 — 正常工作电压下的漏电 失效电流 It2​ 面积 — 版图 footprint 反向钳位 — 负向 ESD 电流路径 §4.1 主动NMOS钳位(Active NMOS Cl...

  • ESD保护器件_TVS二极管GGNMOS

    ESD保护器件(TVS/二极管/GGNMOS/SCR/LDMOS) 概述 Ch.3 系统阐述标准工艺器件与 ESD 保护器件的 脉冲击穿特性 和 设计方法。核心概念是 “免费”ESD 器件(free ESD device)——仅使用工艺已有掩模层、不增加额外工艺步骤即可实现的 ESD 保护结构。 所有 ESD 器件的行为都可追溯到 Ch.2 的 四种基本电导调制机制。器件设计的核心是在正反馈(snapback 触发)和负反馈(电流限制)之间取得平衡。 §3.1 集成工艺中的ESD特殊性 DGO CMOS 工艺基础 典型双栅氧(DGO)CMOS 工艺支持六种主要器件: LV NMOS/PMOS ...

  • ESD信号引脚防护设计

    ESD信号引脚防护设计 概述 Ch.6 以 信号路径模拟产品(运放、DAC/ADC、高速接口)为例,演示 ESD 保护网络和钳位的具体应用。核心挑战是在 保护性能 与 信号完整性 之间取得平衡——ESD 保护元件的寄生参数(电容、漏电)会直接影响模拟信号的质量。 §6.1 运算放大器ESD保护 运放 pin 的 ESD 挑战 运算放大器具有多样化的引脚规格: 低压运放:工作电压 1.2-5V,重点关注信号完整性 高压运放:工作电压 3-100V,重点关注 ESD 保护窗口宽度 高速运放:关注 ESD 寄生电容对带宽的影响 输入引脚保护 输入引脚是运放中最敏感的引脚: 主要约束: 寄生电容 CE...

  • ESD模拟电路设计导论

    ESD模拟电路设计导论 概述 Ch.1 为全书奠定基础,阐述了模拟电路 ESD 设计区别于数字电路的核心差异,建立了全书使用的关键术语和定义体系。本书将 ESD 保护视为集成电路的一种 额外功能规格 ——类似于其他正常工作参数,需要通过内部电路与 ESD 防护网络的协同设计(co-design)来实现。 §1.1 模拟与数字在ESD设计中的差异 核心差异 从 ESD 设计视角,模拟和数字电路存在根本性差异: 维度数字电路 ESD模拟电路 ESD网络独立性ESD pad ring 与内部电路可分离ESD 网络与内部电路不可分离pin 连接每个 pad 单一连接到内部电路多个连接到内部电路节点设计...

  • ESD电导调制机制

    ESD电导调制机制 概述 Ch.2 是本书物理深度最高的章节,系统分析 ESD 脉冲条件下半导体结构中的 电导调制机制。在 ESD 时间域(ns-μs 级)内,大多数过程可视为 绝热(等温)过程,因此电学机制而非热机制决定了初始电导调制现象和 ESD 瞬态波形。热-电热机制仅在接近不可逆失效时变得关键。 所有 ESD 器件中的物理效应均可归结为 五种基本半导体结构 中的电导调制: 基本结构: p-n | n-p-n | p-n-p | p-n-p-n | p-i-n 关键效应: 雪崩击穿 → 双雪崩注入 → 雪崩注入 → 双注入 ↓ ↓ ↓ ↓ 器件应用: 二极管钳位 GGNMOS/Snapb...

  • ESD电源管理设计

    ESD电源管理设计 概述 Ch.7 聚焦 电源管理电路 的 ESD 保护——包括低压 DC-DC、高压调节器、LED 驱动器、控制器等产品类别。与信号路径电路不同,电源管理电路的 ESD 设计主要挑战来自 快速开关引脚、高压输出器件 和 多电源域交互。 §7.1 电源管理产品的ESD挑战 核心差异 电源管理电路的 ESD 设计与信号路径电路的根本不同: 维度信号路径电源管理关键关注信号完整性功率处理能力引脚电压范围窄(1.2-5V)宽(1.2-100V+)主要挑战寄生电容/漏电ESD 窗口极窄/负窗口自保护角色辅助主要(功率管自保护)多域交互简单复杂(多个功率域) ESD保护窗口问题 电源管理...

  • ESD系统级设计

    ESD系统级设计 概述 Ch.8 将 ESD 保护提升到 系统层面。系统级 ESD 与芯片级(HBM/CDM)的根本区别在于:系统需要在 工作状态 下承受 ESD 事件,且放电能量高 1-2 个数量级。本章重点讨论 片上系统级保护(on-chip system-level protection)的实现方法。 §8.1 系统级ESD标准与规范 芯片级 vs 系统级 ESD 特性芯片级(HBM/CDM)系统级(IEC)标准JEDEC / ESDAIEC 61000-4-2测试条件不供电正常工作供电峰值电流1.33-3.75 A15-30 A上升时间2-10 ns0.7-1 ns脉冲能量低高(10-...

  • ESD防护网络设计

    ESD防护网络设计 概述 Ch.5 将 ESD 保护提升到 网络层面——ESD 防护网络本质上是一个 脉冲功率电路,为每个 pin-to-pin 组合提供放电路径并限制电压。网络设计是模拟电路 ESD 保护中最重要的实践环节。 在模拟电路中,ESD 网络与内部电路 不可分离——内部电路组件可能参与 ESD 电流传导。这是与数字电路 ESD pad ring 设计最根本的差异。 §5.1 基于电源轨的ESD保护网络 轨基网络 vs 局部保护 特性轨基网络(Rail-Based)局部保护(Local Clamp)原理钳位接在 VDD-VSS 电源轨之间,IO 通过二极管到轨每个 pin 独立钳位到...

  • Hossein Sarbishaei

    Hossein Sarbishaei Hossein Sarbishaei 是滑铁卢大学(University of Waterloo)的研究人员,专注于高速 I/O 接口的 ESD 保护设计。 主要贡献 高速 I/O ESD 保护设计(CML 驱动器、ADC) ESD 寄生对高速电路性能的定量分析 Volterra 级数分析 ESD 非线性 代表作品 ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies(Springer 2008,与 Oleg Semenov、Manoj Sachdev 合著) 关联页...

  • Manoj Sachdev

    Manoj Sachdev Manoj Sachdev 是滑铁卢大学(University of Waterloo)电气与计算机工程系的教授,IEEE Fellow,CMOS 设计与可靠性组(CMOS Design and Reliability Group)的负责人。 主要贡献 CMOS 集成电路 ESD 保护设计 低功耗数字/模拟电路设计 存储器电路设计与可靠性 ESD 仿真与测试方法 代表作品 ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies(Springer 2008,与 Oleg Semen...

  • Oleg Semenov

    Oleg Semenov Oleg Semenov 是滑铁卢大学(University of Waterloo)电气与计算机工程系的学者,专注于 CMOS 设计与可靠性领域的研究。 主要贡献 ESD 保护设备与电路设计(先进 CMOS 工艺) CMOS 集成电路可靠性分析 ESD 仿真方法论(TCAD + 混合模式 + 芯片级仿真) 代表作品 ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies(Springer 2008,与 Hossein Sarbishaei、Manoj Sachdev 合著) 关联...

  • Andrei Shibkov

    Andrei Shibkov Andrei Shibkov 是 ESD 设计仿真领域的专家,Angstrom Design Automation 创始人,合著了《ESD Design for Analog Circuits》(Springer, 2010)一书。 专业背景 Angstrom Design Automation — 创始人,位于 San Jose, CA(1336 Fruitdale Ave.

  • ESD Design for Analog Circuits 深度解析

    ESD Design for Analog Circuits 深度解析 Vladislav A. Vashchenko, Andrei Shibkov. ESD Design for Analog Circuits. Springer, 2010.

  • Semenov ESD Protection for Advanced CMOS 深度解析

    Semenov ESD Protection for Advanced CMOS 深度解析 Oleg Semenov, Hossein Sarbishaei, Manoj Sachdev.

  • Ivanov OpAmp Ch5 - 输入级设计

    Ivanov OpAmp Ch5: 输入级设计 输入级决定OpAmp的噪声和精度特性。本章系统分析轨到轨输入级的恒定gm技术、CMRR/PSRR提升方法、多种修调(Trimming)技术以及输入保护电路设计。本文基于Ivanov & Filanovsky (2004) Ch.5提炼。 前后关系 前置知识: Ivanov OpAmp Ch4 - 增益结构与频率补偿 — gain boost技术在输入级应用 差分放大器与失调分析 — 差分对基础 本书内部链条: Ch.5(本文)→ Ch.6(中间级)→ Ch.7(输出级)→ Ch.8(特殊功能)→ Ch.9(设计实例) Ch.3偏置→ Ch...

  • 版图与封装技术

    版图与封装技术 模拟电路版图设计是连接电路设计与芯片制造的桥梁。Razavi 第 2 版新增 Ch.19,系统覆盖了多指晶体管、共质心匹配、STI 应力、阱邻近效应、ESD 保护、衬底耦合和封装寄生等模拟版图核心技术。本文基于 Razavi Ch.19、Baker Ch.8-12 和 Gray §2.4 提炼。 前后关系 前置知识: CMOS工艺与器件 — 工艺制造流程对版图的约束 IC制造基础工艺 — 光刻、刻蚀、注入等基础工艺 本书内部链条: 版图与封装(本文)→ Razavi Design of Analog CMOS ICs 深度解析 §19 → CMOS工艺与器件(Ch.18 — 工...

  • BiCMOS ESD电路设计

    BiCMOS ESD电路设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.10,系统介绍 BiCMOS 工艺中的 ESD 电路设计——双极 ESD 输入电路、二极管配置双极输入、电压触发双极输入(电阻接地基极/齐纳击穿/BV_CEO 触发/超低正向偏置触发)、双极缩放、BiCMOS 混合信号设计。 前后关系 前置知识: BiCMOS技术HBT与互连 — BiCMOS 工艺基础 ESD二极管设计 — 二极管 ESD 设计 MOSFET ESD设计 — MOSFET ESD 设计 1.

  • ESD二极管设计

    ESD二极管设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.4,系统介绍 ESD 二极管的完整设计方法——阳极设计(P+ 扩散宽度/接触/硅化物/间距)、互连布线(并行/反并行/锥形)、多晶硅束缚二极管、N-well 二极管、二极管串设计(架构/多I/O/Darlington放大/面积缩放)和三阱 ESD 二极管。 前后关系 前置知识: pn结电流电压特性与击穿 — pn 结物理 ESD芯片设计综合与架构 — 芯片级设计 本书内部链条: ESD芯片设计综合与架构 → ESD二极管设计(本文)→ ESD无源电阻设计 1.

  • ESD分布式系统分析

    ESD分布式系统分析 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.1 §1.10,系统介绍 ESD 系统中集总参数与分布式参数的判据、RLC/RC/RG 梯形网络分析方法。分布式分析对于理解 ESD 电流在芯片中的实际分布至关重要——它决定了保护器件的实际电流分担比。 前后关系 前置知识: ESD时间常数体系 — 时间常数分析 ESD测试模型与系统级模型 — ESD 模型参数 本书内部链条: ESD时间常数体系 → ESD分布式分析(本文)→ ESD度量指标与设计策略 1.

  • ESD基础概念与设计原则

    ESD基础概念与设计原则 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.1,系统介绍 ESD 基础概念、历史演进、17 条核心设计原则和 ESD 缺陷机制分类。与 IC电磁兼容建模技术 的模型参数层面不同,本页聚焦 ESD 的物理本质、设计方法论和失效模式分类。 前后关系 前置知识: CMOS工艺与器件 — CMOS 工艺基础 pn结电流电压特性与击穿 — pn 结物理 MOS晶体管模型与特性 — MOSFET 器件基础 本书内部链条: ESD基础概念(本文)→ ESD测试模型与系统级模型 — ESD 模型参数 → ESD时间常数体系 ...

  • ESD度量指标与设计策略

    ESD度量指标与设计策略 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.1 §1.11-1.14,系统介绍芯片级 ESD 度量指标、质量与可靠性业务指标、12 步 ESD 策略构建法、ESD 欧姆定律经验设计和缩放理论。这些度量和方法论为 ESD 保护设计提供了量化框架。 前后关系 前置知识: ESD分布式系统分析 — 分布式系统分析 ESD测试模型与系统级模型 — ESD 模型参数 本书内部链条: ESD分布式系统分析 → ESD度量指标(本文)→ ESD芯片设计综合与架构 1.

  • ESD无源电阻设计

    ESD无源电阻设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.5,系统介绍无源电阻在 ESD 保护中的应用——N-well 电阻(ESD 问题/MOSFET 集成/镇流/速度饱和)、N/P 扩散电阻、埋层电阻 BR(设计/二极管元素/HBM-CDM 元素/镇流/集成/电流窃取/失效机制/栅连接)。 前后关系 前置知识: ESD二极管设计 — 二极管 ESD 设计 CMOS工艺与器件 — CMOS 无源元件 本书内部链条: ESD二极管设计 → ESD无源电阻(本文)→ 模拟RF无源元件ESD设计 1.

  • ESD时间常数体系

    ESD时间常数体系 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.1 §1.6,系统介绍 ESD 事件中的多尺度时间常数体系——从电荷弛豫、磁扩散到热扩散,从半导体器件到芯片级系统。时间常数分析是理解 ESD 事件物理过程和确定保护设计策略的基础。 前后关系 前置知识: ESD测试模型与系统级模型 — ESD 模型参数 pn结电流电压特性与击穿 — pn 结物理 本书内部链条: ESD测试模型与系统级模型 → ESD时间常数(本文)→ ESD分布式系统分析 1.

  • ESD测试模型与系统级模型

    ESD测试模型与系统级模型 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.1 §1.4-1.5,系统介绍 IC 级和系统级 ESD 测试模型的完整参数与波形特征。本页大幅扩展 IC电磁兼容建模技术 中的 ESD 模型内容,增加 VF-TLP、系统级模型(HMM/CBM/CDE)和完整时间常数对比。 前后关系 前置知识: IC电磁兼容建模技术 — HBM/MM/CDM/TLP 基础参数(EMC of ICs 教材视角) ESD基础概念与设计原则 — ESD 物理基础 本书内部链条: ESD基础概念与设计原则 → ESD测试模型(本文)→ ...

  • ESD电源钳位网络

    ESD电源钳位网络 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.11-12,合并介绍 CMOS 和双极 ESD 电源钳位网络——CMOS 电源钳位(RC 触发/栅耦合/正向偏置触发/IEC 响应)、Master/Slave 系统、串联堆叠 RC 触发钳位、三阱串联二极管钳位、双极电源钳位(齐纳触发/BV_CEO 触发/正向偏置/混合电压/电容触发)、Johnson Limit 关系、SiGe HBT 钳位。 前后关系 前置知识: ESD芯片设计综合与架构 — 芯片级设计 BiCMOS ESD电路设计 — 双极 ESD 电路 1.

  • ESD芯片设计综合与架构

    ESD芯片设计综合与架构 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.2,系统介绍半导体芯片 ESD 综合的完整方法论——电气/热/空间连接性分析、输入保护网络、电源钳位网络、轨到轨网络、保护环、焊盘下结构,以及混合信号架构中的域间 ESD 网络设计。 前后关系 前置知识: ESD度量指标与设计策略 — ESD 设计策略 CMOS工艺与器件 — CMOS 工艺基础 本书内部链条: ESD度量指标与设计策略 → ESD芯片设计综合(本文)→ MOSFET ESD设计 外部关联: IC电磁兼容建模技术 — IC 级 EMC 建模 1.

  • MOSFET ESD设计

    MOSFET ESD设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.3,系统介绍 MOSFET 作为 ESD 保护器件的完整设计方法——沟道长度/宽度设计、接触间距规则、金属布线电流分布、硅化物遮蔽、多指 MOSFET 集成技术(电阻镇流/栅耦合多米诺/源极启动栅自举)、封闭漏极设计和互连镇流。 前后关系 前置知识: MOS晶体管模型与特性 — MOSFET 器件基础 CMOS工艺与器件 — CMOS 工艺 ESD芯片设计综合与架构 — 芯片级设计 本书内部链条: ESD芯片设计综合与架构 → MOSFET ESD设计(本文)→ E...

  • SCR ESD电源钳位

    SCR ESD电源钳位 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.13,系统介绍 SCR(Silicon Controlled Rectifier)作为 ESD 电源钳位的设计——单向/双向 SCR、中电平 SCR、低压触发 SCR、LDMOS 电路(LOCOS/STI/隔离 STI)、DeMOS/DeNMOS/DeNMOS-SCR、UHV-LDMOS/UHV-LDMOS-SCR。 前后关系 前置知识: ESD电源钳位网络 — 电源钳位基础 pn结电流电压特性与击穿 — pn 结物理 1.

  • SOI ESD设计

    SOI ESD设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.9,系统介绍 SOI(Silicon-on-Insulator)工艺中的 ESD 设计——BOX 膜影响、T 形版图体接触 MOSFET、SOI 横向二极管(多种结构)、SOI BR 元素、动态阈值 SOI MOSFET、SOI 双栅 MOSFET、Bulk→SOI ESD 重映射、SOI FinFET 结构。 前后关系 前置知识: MOSFET ESD设计 — 体硅 MOSFET ESD ESD二极管设计 — 二极管 ESD 设计 CMOS工艺与器件 — CMOS 工艺...

  • 接收器电路ESD设计

    接收器电路ESD设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.8,系统介绍接收器电路的 ESD 设计——延迟时间与负载效应、HBM/CDM 接收器方案、接收器演进(半通 TG/全通 TG/keeper/修改 keeper)、伪零 VT TG、ZVT TG、漏晶体管接收器、Schmitt 触发反馈、双极/差分接收器。 前后关系 前置知识: ESD芯片设计综合与架构 — 芯片级设计 MOSFET ESD设计 — MOSFET ESD 器件 1.

  • 模拟RF无源元件ESD设计

    模拟RF无源元件ESD设计 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.6,系统介绍模拟/RF 电路中无源元件的 ESD 设计——版图匹配(局部/全局/对称/热对称)、公共质心设计(一轴/两轴)、交叉指插设计、电阻元件 ESD(dogbone/交叉指/虚拟/热电消除/静电屏蔽)、电容/电感 ESD 设计。 前后关系 前置知识: ESD无源电阻设计 — 无源电阻 ESD 射频放大器与LNA设计 — RF 电路基础 本书内部链条: ESD无源电阻设计 → 模拟RF无源ESD(本文)→ 离片驱动器OCD与ESD 1.

  • 离片驱动器OCD与ESD

    离片驱动器OCD与ESD 📚 Voldman ESD 补充:本页基于 ESD: Circuits and Devices Ch.7,系统介绍离片驱动器(Off-Chip Driver, OCD)的 ESD 设计——I/O 标准(TTL/LVTTL/GTL/HSTL/SSTL)、CMOS 非对称/对称驱动器、MVI 驱动器、自偏置阱 OCD、可编程阻抗 OCD、栅调制 OCD、衬底调制电阻镇流 MOSFET。 前后关系 前置知识: ESD芯片设计综合与架构 — 芯片级设计 MOSFET ESD设计 — MOSFET ESD 器件 1.

  • ESD Circuits and Devices 深度解析

    ESD Circuits and Devices 深度解析 ESD: Circuits and Devices, Second Edition(Wiley, 2015)由 Steven H.

  • IC电磁兼容建模技术

    IC电磁兼容建模技术 📚 EMC of ICs 补充:本页基于 Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits Ch.5,系统介绍 IC 级 EMC 建模的完整体系。与 IC电磁兼容基础与耦合机制 的概念层面不同,本页聚焦具体的模型结构与参数。 1.

  • 射频电路ESD保护设计

    射频电路ESD保护设计 Semenov 补充 | 来源: Semenov et al., ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies, Ch.8 概述 射频接收器中,低噪声放大器 (LNA) 是第一级模块,对 ESD 保护电路的寄生参数最为敏感。ESD 保护添加的额外寄生电容和电阻会退化 LNA 的输入匹配、增益和噪声性能。本章聚焦于窄带 LNA 的 ESD 保护策略,利用 RF 信号与 ESD 信号在频率和能量上的差异实现协同设计。 两种信号的主要差异: 能量/电压:ESD 信号电压极高 → ...

  • 智能功率IC ESD保护设计

    智能功率IC ESD保护设计 Semenov 补充 | 来源: Semenov et al., ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies, Ch.7 概述 智能功率(Smart Power)技术在同一芯片上集成 CMOS 逻辑、低压模拟和高压驱动晶体管(VDD​≈1.8-5 V 的低压器件和 VDD​≈20-60 V 的高压器件)。典型应用包括工业功率执行器、可编程逻辑控制器、汽车电子和 LCD 驱动 IC。 ESD 保护策略分为两类: 非自保护方案:在 I/O 单元外额外添加 ESD 保护器...

  • 高速IO接口ESD保护设计

    高速IO接口ESD保护设计 Semenov 补充 | 来源: Semenov et al., ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies, Ch.6 概述 高速 I/O 电路中,ESD 保护电路的寄生参数(尤其是寄生电容)对主电路性能的影响极为显著。ESD 保护电路在 I/O 焊盘上添加的额外寄生电容——主要是反偏 PN 结电容——具有高度非线性,不仅限制频率响应,还会降低线性度。本章通过三个案例研究(12-bit 20 MS/s ADC、14-bit 125 MS/s ADC 的 Volter...