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Manoj Sachdev
Manoj Sachdev Manoj Sachdev 是滑铁卢大学（University of Waterloo）电气与计算机工程系的教授，IEEE Fellow，CMOS 设计与可靠性组（CMOS Design and Reliability Group）的负责人。 主要贡献 CMOS 集成电路 ESD 保护设计 低功耗数字/模拟电路设计 存储器电路设计与可靠性 ESD 仿真与测试方法 代表作品 ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies（Springer 2008，与 Oleg Semen...
Oleg Semenov
Oleg Semenov Oleg Semenov 是滑铁卢大学（University of Waterloo）电气与计算机工程系的学者，专注于 CMOS 设计与可靠性领域的研究。 主要贡献 ESD 保护设备与电路设计（先进 CMOS 工艺） CMOS 集成电路可靠性分析 ESD 仿真方法论（TCAD + 混合模式 + 芯片级仿真） 代表作品 ESD Protection Device and Circuit Design for Advanced CMOS Technologies（Springer 2008，与 Hossein Sarbishaei、Manoj Sachdev 合著） 关联...
纳米CMOS可靠性工程与DFR流程
纳米CMOS可靠性工程与DFR流程 本页面基于 Maricau & Gielen《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013) Ch.1 全量内容。覆盖可靠性工程历史、纳米 CMOS 可靠性挑战、DFR 五阶段流程、行业标准与加速测试方法。 可靠性工程简史 1816：Samuel Taylor Coleridge 首次使用 “reliability” 一词（苏格兰语 raliabill = rely + able） 1654：Pascal 与 Fermat 建立概率论，为可靠性工程奠定数学基础 1812：Laplace...
Elie Maricau
Elie Maricau Elie Maricau，比利时 KU Leuven（鲁汶大学）ESAT-MICAS 实验室研究员。与 Georges Gielen 合著《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013)，是纳米 CMOS 模拟 IC 可靠性建模与仿真领域的系统性专著。 基本信息 属性内容全名Elie Maricau所属KU Leuven, ESAT-MICAS（比利时鲁汶大学微电子系）研究领域纳米 CMOS 模拟 IC 可靠性、老化效应紧凑模型、可靠性仿真方法代表著作Analog IC Reliability in N...
Georges Gielen
Georges Gielen Georges Gielen，比利时 KU Leuven（鲁汶大学）ESAT-MICAS 实验室教授，IEEE Fellow。模拟与混合信号 IC 设计、可靠性工程领域权威学者。与 Elie Maricau 合著《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013)。 基本信息 属性内容全名Georges E.
Maricau Analog IC Reliability in Nanometer CMOS 深度解析
Maricau《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》深度解析 Elie Maricau, Georges Gielen, Analog IC Reliability in Nanometer CMOS, Springer, 2013, ISBN 978-1-4614-6163-0.