Jitter 对数据转换器的影响
数据转换器中时钟 jitter 的影响有三种不同机制:IDAC 的输出误差取决于脉冲类型(NRZ/RZ/积分型),Nyquist ADC 的采样抖动产生与输入频率成比例的 SNR 退化,TI-ADC 的通道间时序偏斜产生带内杂散。每种机制需要不同的模型和缓解策略。
前后关系
前置知识:
- Jitter基本概念与定义 — aperiod jitter 定义
- Jitter与Phase Noise关系 — 相位噪声→jitter 频域分析
- 电路中的Jitter与Phase Noise — 振荡器相位噪声
本书内部链条:
- Ch.6(本文)→ Wireline系统中Jitter与CDR(Ch.7)中 DAC 抖动效应
- Ch.6 → 无线系统中Phase Noise影响(Ch.8)中 LO 相位噪声→接收机 SNR
外部关联:
- CT-ΔΣ时间常数变化与时钟抖动 — CT-ΔΣ 时钟抖动详细分析(§9.3)
- CT-ΔΣ时钟抖动缓解与FIR反馈DAC — NRZ DAC 抖动缓解的架构级方案
- CT-ΔΣ比较器与反馈DAC设计 — SC DAC 的抖动免疫特性
- CT-ΔΣ调制 — CT-ΔΣ 隐含反混叠与抖动的交互
- 采样理论基础 — 采样抖动
- ΔΣ调制器性能FoM — ADC 性能评估
原理介绍
1. 电流 DAC(IDAC)Jitter
NRZ(Non-Return-to-Zero)IDAC
全周期保持恒流输出。时钟 jitter 导致输出脉冲宽度变化:
误差电荷:
输出误差电压(经过滤波器):
关键性质:NRZ DAC 的 jitter 误差与信号本身无关,仅取决于噪声电流幅值和抖动大小。
NRZ IDAC + 线性滤波器
- RC 低通或运放积分器对输出滤波
- 误差脉冲被滤波器展宽和衰减
- 带内误差功率:
NRZ IDAC + 积分电容
输出接电容 时:
误差电压:,对 jitter 的敏感度反比于 。
RZ(Return-to-Zero)IDAC
脉冲仅在半个周期内有电流(前半/后半),jitter 导致脉冲面积误差而非宽度误差:
- RZ 脉冲的 jitter 灵敏度与 NRZ 相同,但频率响应不同
- 实际应用中,RZ 脉冲的频谱更宽,可能对后续滤波更友好
2. Nyquist ADC 采样 Jitter
采样误差建模
对于正弦输入 ,采样时刻的抖动 导致电压误差:
误差方差(假设 与信号不相关且 ):
SNR 退化公式
关键结论:
- SNR 随输入频率增加而恶化(每倍频 -6dB)
- 高频应用(IF 采样 > 100MHz)中,抖动 SNR 可能超过量化噪声成为主导
| ps | ps | ps | |
|---|---|---|---|
| 1 MHz | 84 dB | 70 dB | 64 dB |
| 10 MHz | 64 dB | 50 dB | 44 dB |
| 100 MHz | 44 dB | 30 dB | 24 dB |
| 1 GHz | 24 dB | 10 dB | 4 dB |
ENOB 退化:
设计考量
- ADC 采样时钟的相位噪声预算: 在感兴趣频段内积分
- 片内 PLL 的相位噪声往往在 100kHz-10MHz 偏移内主导
- 高频设计需要低抖动时钟(< 100fs RMS)
3. TI-ADC 时序偏斜(Timing Skew)
问题描述
时间交织 ADC 中 个子 ADC 轮流采样,通道间采样时钟的相对延迟偏差 :
其中 是当前活跃通道。
误差分析
通道 的采样误差近似:
频谱效应:
- 误差序列以 为周期重复 → 在 处产生杂散
- 杂散幅度与 成正比
设计考量
- TI-ADC 的校准方案:后台或前台测量 并数字补偿
- 越大,杂散越多,校准复杂度越高
4. CT-ΔΣ 调制器 Jitter
Flash ADC 定时误差
CT-ΔΣ 内部多比特 Flash ADC 的比较器 timing error:
- 误差幅度与相邻输出差分成正比
- 量化器的信号相关延迟(亚稳态)产生 data-dependent jitter → 确定性抖动
DAC 定时误差
反馈 DAC 脉冲的边沿抖动导致反馈电荷误差:
NRZ DAC:
RZ/SC DAC:
- NRZ DAC 对时钟 jitter 的灵敏度高于 RZ DAC
- SC DAC 的 jitter 灵敏度最低()
- FIR 反馈 DAC 通过多抽头平均降低步高,缓解抖动灵敏度
详见 CT-ΔΣ时间常数变化与时钟抖动 和 CT-ΔΣ时钟抖动缓解与FIR反馈DAC。
各场景 Jitter 影响对比
| 场景 | 误差来源 | SNR 退化规律 | 主要缓解策略 |
|---|---|---|---|
| NRZ IDAC | 脉冲宽度 | 与信号无关, | 滤波、大电容 |
| Nyquist ADC | 采样时刻 | 低抖动 PLL、高频时钟缓冲 | |
| TI-ADC | 通道偏斜 | 杂散 | 后台校准 |
| CT-ΔΣ | DAC 脉冲边沿 | FIR DAC、SC DAC、多bit |
参考文献
- Da Dalt, N., & Sheikholeslami, A. (2018). Understanding Jitter and Phase Noise, Ch.6. Cambridge University Press.
- Shinagawa, M., et al. (1990). “Jitter Analysis of High-Speed Sampling Systems.” IEEE JSSC, 25(1), 220-224. [Aperture jitter 经典分析]
- Kurosawa, N., et al. (2001). “Explicit Analysis of Channel Mismatch Effects in Time-Interleaved ADC Systems.” IEEE Trans. CAS-I, 48(3), 261-271. [TI-ADC 偏斜分析]
- Ortmanns, M., & Gerfers, F. (2006). Continuous-Time Sigma-Delta A/D Conversion. Springer. [CT-ΔΣ 抖动分析]
- Cherry, J., & Snelgrove, W. M. (2000). Continuous-Time Delta-Sigma Modulators for High-Speed A/D Conversion. Springer. [CT-ΔΣ DAC 抖动]