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IC可靠性评估与抗失效设计
IC可靠性评估与抗失效设计 本页面基于 Maricau & Gielen《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013) Ch.6 全量内容。覆盖可靠性评估五维度、老化免疫/敏感参数分析、固有鲁棒电路与自修复电路、IDAC 案例研究、数字电路寿命分析。 可靠性评估五维度 评估一个 IC 的可靠性需要考虑五个维度： 1.
Jitter对数据转换器的影响
Jitter 对数据转换器的影响 数据转换器中时钟 jitter 的影响有三种不同机制：IDAC 的输出误差取决于脉冲类型（NRZ/RZ/积分型），Nyquist ADC 的采样抖动产生与输入频率成比例的 SNR 退化，TI-ADC 的通道间时序偏斜产生带内杂散。每种机制需要不同的模型和缓解策略。 前后关系 前置知识： Jitter基本概念与定义 — aperiod jitter 定义 Jitter与Phase Noise关系 — 相位噪声→jitter 频域分析 电路中的Jitter与Phase Noise — 振荡器相位噪声 本书内部链条： Ch.6（本文）→ Wireline系统中Jit...