Maloberti §8.6-§8.7 从电路实现角度深入动态匹配(DEM)技术:涵盖电流分割动态匹配、蝶形随机化网络、ILA 两种实现(旋转/加法)、DWA 物理实现,以及抽取/插值滤波器(CIC结构)的完整设计。

1. 电流分割动态匹配

1.1 基本原理

电流分割器(Fig. 8.14)用 M1-M2 对管将电流 分割为 和 :

  • 固定分割:失配 引起固定比例误差
  • 动态匹配:随机数发生器 控制四开关网络,交换 M1-M2 支路的输出连接
  • 平均效果:(1 和 0 等概率)

推广到多元素:7-bit DAC 中,通过 7 级分割树实现二进制加权电流,每级用随机位流控制交换。

1.2 随机位流发生器

闭合环路反馈结构(Fig. 8.15):

  • n-bit 延迟线(串接的 寄存器)
  • 加/减处理逻辑(以 为界)
  • 输出 MSB 作为动态匹配控制位

初始寄存器内容为伪随机序列,MSB 近似 50% 占空比的随机位流。

1.3 仿真验证

0.1% 随机失配下(7-bit DAC,满幅正弦波输入):

  • 无 DEM:频谱出现大尖峰(谐波杂散)
  • 有 DEM:尖峰消失或降至 -60 dBFS 以下,失配能量转化为白噪声底

2. 蝶形随机化网络(§8.6.1)

2.1 架构

温度计码 级蝶形开关 个单元元素

每级蝶形由 个 2×2 交叉开关组成,控制位决定直通或交叉:

   输入 0 ──[B0]──[B1]──[B2]── 输出 0
   输入 1 ──[B0]──[B1]──[B2]── 输出 1
   ...      ...     ...     ...
   输入 7 ──[B0]──[B1]──[B2]── 输出 7

2.2 连接能力和控制

  • 元素可产生 种连接( 种)
  • 级蝶形保证任意输入可连到任意输出
  • 控制位来自 k-bit RNG()
  • 增加蝶形级数增加连接可能性,但改善有限

2.3 性能

M蝶形级数随机化能力硬件复杂度
42足够8 个开关
83良好24 个开关
164优秀64 个开关
325优秀160 个开关

3. 独立电平平均(ILA)(§8.6.2)

ILA 为每个码字级别维护一组特定单元,独立旋转选择。

3.1 旋转法(Rotation Approach)

对码值 ,维护指针 :

从 开始顺序选取 个单元。不同码值使用不同的单元起始点。

3.2 累加法(Addition Approach)

用模 运算替代直接累加,使指针分布更均匀。

3.3 性能对比

8 元素 DAC、0.2% 失配、二阶 ΣΔ 调制器、OSR = 64:

方法SNDR特点
无 DEM~59 dB杂散主导
随机选择~62 dB白化噪声
ILA 旋转84 dB一阶整形,低频凹陷
ILA 加法87 dB更优(能量推至更高频)
DWA85-88 dB类似 ILA 加法

ILA 加法优势:错误能量在更宽频带上分布 → 带内残留更少。

3.4 单元选择波形

给定输入序列 ,7 元素 DAC:

  • 旋转法:单元 2 和 7 切换一次,其他 ≥ 2 次
  • 累加法:所有单元切换 ≥ 2 次,分布更均匀

频繁切换 → 失配误差在单元间快速交替 → 更好的整形效果。

4. DWA 电路实现(§8.6.3)

4.1 指针算法

  • 为当前周期需要的单元数
  • 从 ptr 开始顺序选择 个单元
  • 指针循环递增

4.2 物理实现

DWA 指针更新可由加法器和寄存器实现:

// M=16 的 DWA 指针更新
reg [3:0] ptr;
wire [3:0] m; // 当前所需单元数
always @(posedge clk) begin
    ptr <= ptr + m;
end

单元选择逻辑:温度计码译码器 + 循环移位器(barrel shifter):

  • 将固定温度计码 个 1 在 位中循环移位
  • 移位量 = 当前指针值
  • 输出 位选择信号直接驱动 DAC 单元

4.3 小信号问题(Kink)

当输入幅度小( dBFS)时,DAC 仅在少数码间切换:

  • 指针在少数位置循环
  • 失配误差频谱在 附近产生杂散
  • 在 OSR 边缘可能落入带内

缓解方案:

  • DWA + 随机扰动(dither)
  • 二阶 DEM(Bi-DWA、树形 DEM)
  • FILO-DWA(先入后出,结合一阶实现和二阶效果)

4.4 各 DEM 方法对比

方法整形阶数复杂度小信号性能硬件开销
随机化0极低无杂散RNG + 多路器
DWA1低Kink 杂散加法器 + 桶形移位
ILA 旋转1中优于 DWAM 个指针寄存器
ILA 加法1中优于旋转M 个指针 + 加法器
蝶形随机化0中良好 级开关
Bi-DWA2高无 Kink双指针 + 排序逻辑
VQ-DEM高阶极高优异向量量化器

5. 抽取滤波器(§8.7.1)

5.1 设计要求

ΣΔ 调制器输出需经过抽取滤波:

  1. 去除带外整形噪声(防止混叠)
  2. 降低数据率(从 到 )

混叠噪声约束:混叠噪声总功率 带内噪声功率。

L 阶 ΣΔ 调制器在 Nyquist 附近的噪声功率:

5.2 CIC 滤波器(级联积分梳状)

  • :抽取率
  • :级数(通常 3-5)
  • 无乘法器(仅加法器 + 寄存器)→ 适合高速
  • 频率响应: 形状

结构:

输入 → [积分器×K] → [抽取 /M] → [梳状×K] → 输出

通带滚降:CIC 的 响应在通带边缘有衰减,需后续 FIR 补偿。

5.3 多级抽取

将高抽取率分解为多级实现,显著降低计算量:

级功能抽取率时钟频率
1CIC 抽取32
2FIR 补偿 + 半带抽取2
3FIR 半带抽取2
总128

优势:每级在降频后处理,总加法器/乘法器数量大幅减少。

6. 插值滤波器(§8.7.2)

ΣΔ DAC 的逆操作:从 Nyquist 率升采样到过采样率。

6.1 插值步骤

  1. 零值插入:原始采样点间插入 个零
  2. 镜像滤波:去除 以上的镜像频谱
  3. 数字 ΣΔ 调制:高分辨率过采样信号 → 低分辨率过采样信号
  4. 低分辨率 DAC + 重建滤波器

6.2 多级插值

与抽取类似,多级实现降低复杂度:

级功能插值率时钟
12× 插值 FIR2
22× 插值 FIR2
3CIC 插值32
总128

7. DEM 与 PLL 的关系

7.1 多-bit ΣΔ PLL 中的 DEM 需求

分数-N PLL 中使用多-bit ΔΣ 调制器时,反馈路径中的 DAC 必须处理多电平信号,单元失配直接导致 PLL 带内相噪和杂散:

  • DAC 线性化:DEM/DWA 技术将 DAC 单元失配能量从低频(PLL 带内)搬移至高频(带外被环路滤波),是 PLL 中多-bit ΣΔ 方案的关键使能技术
  • 失配整形阶数选择:PLL 环路为低通特性(典型带宽 ),一阶 DEM(DWA/ILA)通常足够将失配噪声推出带外;高阶 DEM(Bi-DWA)仅在极窄带 PLL 中有额外收益
  • 小信号杂散(§4.3 Kink):PLL 锁定时分频比控制字变化小 → DWA 指针在小范围循环 → 杂散可能落入 PLL 带内 → 需 dither 或二阶 DEM 缓解

7.2 CIC 滤波器在 PLL 数字后处理中的应用

PLL 的数字后处理(如 ADPLL 中的相位误差数字滤波)常用 CIC 结构(§5.2):

  • CIC 无乘法器特性(§5.2)使其适合 PLL 中的高速降采样/升采样操作
  • CIC 的 通带滚降需后续 FIR 补偿——PLL 数字环路滤波器可合并此补偿
  • 多级抽取(§5.3) 的结构与 PLL 中多速率数字处理自然匹配

7.3 PLL 相关 DEM 设计考量

设计维度在 PLL 中的特殊性
整形阶数一阶 DEM 通常足够(PLL 环路为低通)
时钟速率DEM 由 或 时钟驱动,须满足建立时间
硬件开销PLL 对面积敏感,DWA(加法器+桶形移位器)比 ILA(多指针)更优
延迟约束DEM 处理延迟须 < 1/(与 §2.4 时间常数调谐需求类似)

7.4 相关 PLL 页面

8. 参考文献

  1. Maloberti, F. (2007). Data Converters, §8.6-§8.7. Springer.
  2. Baird, R. T., & Fiez, T. S. (1995). “Improved ΔΣ DAC Linearity Using Data Weighted Averaging.” IEEE ISCAS, 1, 13-16.
  3. Galton, I. (1997). “Spectral Shaping of Circuit Errors in Digital-to-Analog Converters.” IEEE TCAS-II, 44(10), 808-817.
  4. Hogenauer, E. B. (1981). “An Economical Class of Digital Filters for Decimation and Interpolation.” IEEE Trans. ASSP, 29(2), 155-162.
  5. Schreier, R., & Temes, G. C. (2005). Understanding Delta-Sigma Data Converters. IEEE Press/Wiley.

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