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纳米CMOS可靠性工程与DFR流程
纳米CMOS可靠性工程与DFR流程 本页面基于 Maricau & Gielen《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013) Ch.1 全量内容。覆盖可靠性工程历史、纳米 CMOS 可靠性挑战、DFR 五阶段流程、行业标准与加速测试方法。 可靠性工程简史 1816：Samuel Taylor Coleridge 首次使用 “reliability” 一词（苏格兰语 raliabill = rely + able） 1654：Pascal 与 Fermat 建立概率论，为可靠性工程奠定数学基础 1812：Laplace...