Kok CMOS Voltage References 深度解析
Kok/Tam《CMOS Voltage References: An Analytical and Practical Perspective》(Wiley, 2013) 是 CMOS 电压参考设计的专用教材。全书以 opamp-based β-multiplier bandgap 为核心框架,从器件物理温度特性(Ch.1)、性能表征体系(Ch.2)、带隙基准系统设计(Ch.3)、误差源分析(Ch.4),到高级温度补偿(Ch.5)、亚 1V 设计(Ch.6)、高阶曲率校正(Ch.7)和无电阻基准(Ch.8),构建了从理论到硅片的完整设计链。本书源自 Canaan Microelectronics 内部培训材料,包含大量 SPICE 仿真验证和 0.18 μm CMOS 工艺实例。
书籍基本信息
| 项目 | 内容 |
|---|---|
| 作者 | Chi-Wah Kok, Wing-Shan Tam |
| 出版 | John Wiley & Sons Singapore, 2013 |
| 页数 | 289 页(8 章 + 2 附录 + 索引) |
| 核心主题 | CMOS 电压参考电路的分析与设计 |
| 工艺 | 0.18 μm mixed signal CMOS(HSPICE 仿真验证) |
| 特色 | 解析推导 + SPICE 仿真 + Layout 实践 + 修调分析 |
书籍定位
| 参考书/章节 | 关系 | Kok 的独特视角 |
|---|---|---|
| Gray §4.7 带隙基准 | 经典 BJT 带隙拓扑 | CMOS 实现 + 完整误差源分析 + trimming |
| Sansen §16 带隙/LDO | 基础带隙 + 低压基准 | β-multiplier 系统框架 + 高阶曲率校正 + 无电阻基准 |
| Rincon-Mora LDO Thesis | LDO 系统设计 + 曲率校正 | 电压参考专用(非 LDO 附属)+ 多种补偿拓扑 |
| Martin §7.4 电压调节器 | 系统级 LDO | 电路级电压参考设计 + 器件匹配统计 |
| Pertijs Ch.3 温度传感器 | 比率测温 + DEM | 独立电压参考设计(非传感器比率)+ trimming |
| Razavi 模拟 CMOS | 无电压参考专题 | 电压参考完整设计链 |
各章结构化摘要
Chapter 1: Warm Up(pp. 1-46)
核心内容:电压参考设计所需的器件物理基础。
BJT 温度特性(§1.1):
- NPN 优先于 PNP(高 β、低基极电阻、可 cascode)
- CMOS 中 vertical PNP:集电极 = 衬底(接地),β 低
- 完整模型(Eq.1.4,含 工艺常数 + 偏置项)
- 简化(Eq.1.7):
- PTAT 电压 (Eq.1.13)
MOSFET 温度特性(§1.2):
- 亚阈值导电:,(Eq.1.18-1.19)
- 亚阈值差分 (Eq.1.22)— 知识库新增
- 饱和区平方律 (Eq.1.26)
- 温度:(Eq.1.31),CTAT
- 迁移率温度:(Eq.1.33),CTAT
- 双温度特性:亚阈值 CTAT / 饱和区 PTAT / mutual biasing ZTC 点
电阻(§1.4): 多项式模型(Eq.1.40),Non-silicide P+ poly 最适合电压参考
器件匹配(§1.5):
- Pelgrom 随机误差模型:,
- 单元并联:精度提升 倍(Eq.1.42)— 知识库新增
- 梯度误差:centro-symmetric + inter-digit layout
噪声(§1.7):热噪声/散粒噪声/闪烁噪声模型
Chapter 2: Voltage Reference(pp. 49-70)
核心内容:电压参考电路的性能表征体系。
- Line Regulation(§2.1.1)
- Temperature Coefficient(§2.1.2)
- Power Supply Rejection Ratio(§2.1.3)
- Quiescent Current(§2.1.4)
- Output Noise(§2.1.5)
- 其他设计考虑(§2.2)
Chapter 3: Bandgap Voltage Reference(pp. 71-101)
核心内容:Opamp-based β-multiplier 带隙基准系统框架。
- Widlar 带隙基准电路(§3.1)
- Drain voltage equalization current mirror(§3.2)
- Opamp-based β-multiplier 带隙基准(§3.2.1-3.2.2)
- 主要电路元件(§3.3):
- 运算放大器设计(§3.3.1)
- 电流镜(§3.3.2)
- 启动电路(§3.3.3)
- 电阻网络(§3.3.4)
- 双极晶体管(§3.3.5)
- 完整 Layout(§3.4)
Chapter 4: Error Sources in Bandgap Voltage Reference(pp. 103-161)
核心内容:系统化的误差源分析与 remediation。
- 非理想运放(§4.1):Input offset voltage / 有限增益与 PSRR / 噪声
- 电流镜失配(§4.2):Channel length modulation 补偿 / Cascode 电流镜
- BJT 偏差(§4.3):Size variation / Series base resistance / β variation
- 电阻偏差(§4.4)
- 电源变化(§4.5):Pre-regulation 技术
- 输出负载(§4.6)
- 输出噪声(§4.7)
- Trimming(§4.8):
- Linked fuse resistor trimming(§4.8.1)
- Resistor trimming circuit analysis(§4.8.2)
- Modulated trimming(§4.8.3)
- Voltage domain trimming(§4.8.4)
- Current domain trimming(§4.8.5)
Chapter 5: Temperature Compensation Techniques(pp. 165-189)
核心内容:多种温度补偿拓扑。
- 补偿(§5.1):Brokaw / β-multiplier 变体
- Widlar PTAT 电流源与 补偿(§5.2)
- 温度补偿(§5.3): 电流源
- 小结与习题
Chapter 6: Sub-1V Voltage Reference Circuit(pp. 191-222)
核心内容:亚 1V 供电和亚 1V 输出的电压参考设计。
- Sub-1V 输出级(§6.1)
- 运放 β-multiplier 中的电压裕度(§6.2):NMOS input / local boosting / low / bulk-driven
- 电阻分压 的亚 1V 带隙(§6.3):resistive divided / independent biased
- Peaking current source 与 补偿(§6.4)
- Weighted 补偿(§6.5)
Chapter 7: High Order Curvature Correction(pp. 223-257)
核心内容:高阶曲率校正的系统方法。
- 补偿阶次分析(§7.1)
- 二阶温度补偿(§7.2):二阶电流源 / current subtraction / current addition
- BJT current subtraction(§7.3)
- Piecewise linear compensation(§7.4)
- 相似温度依赖源的求和与差分(§7.5):
- 相似温度依赖电压之差(§7.5.1)
- 反温度依赖电压之和(§7.5.2)
- Multi-threshold voltage curvature compensated(§7.5.3)
Chapter 8: CMOS Voltage Reference without Resistors(pp. 259-281)
核心内容:无电阻电压参考的紧凑设计。
- 加权 PTAT 源生成(§8.1):inverse functions / negative impedance converter
- 无电阻电压/电流源(§8.2)
- 一阶补偿无电阻带隙(§8.3):voltage summation / current summation
- 无电阻 sub-bandgap 参考(§8.4):voltage summation / CTAT voltage reduction
跨来源对比总表
| 维度 | Gray §4.7 | Sansen §16 | Rincon-Mora | Kok |
|---|---|---|---|---|
| BJT CMOS 实现 | 简述 | 简述 | 不涉及 | NPN/PNP 详细对比 + Layout |
| MOSFET 温度特性 | 不涉及 | 不涉及 | 不涉及 | 亚阈值/饱和/ZTC 完整分析 |
| 带隙系统框架 | Brokaw/Widlar | 基础 | LDO 附属 | β-multiplier 完整 + Layout |
| 误差源分析 | 不涉及 | 不涉及 | 不涉及 | 6 大类系统化 + remediation |
| Trimming | 不涉及 | 不涉及 | 模拟 trimming | 5 种技术(fuse/modulated/V/I domain) |
| 温度补偿拓扑 | 一阶 | 一阶 | 5 种曲率校正 | Brokaw/Widlar/V_GS/weighted ΔV_GS |
| 亚 1V 设计 | 低压 Brokaw | <1V BGR | IV-mode | 电阻分压/peaking/bulk-driven |
| 高阶曲率校正 | 不涉及 | 不涉及 | current subtraction | 二阶/piecewise/multi-V_th/BJT subtraction |
| 无电阻基准 | 不涉及 | 不涉及 | 不涉及 | 完整设计方法 |
| 器件匹配统计 | Pelgrom 简述 | 不涉及 | 不涉及 | 串并联单元 + 梯度误差 |
| SPICE 验证 | 不涉及 | 不涉及 | MOSIS 2μm | 0.18μm CMOS 全章仿真 |
相关页面
- CMOS电压参考系统设计与误差分析 — Ch.1-4 核心概念页
- 温度补偿与亚1V基准设计技术 — Ch.5-8 核心概念页
- 偏置电路与电流基准 — 带隙基准基础覆盖(Gray/Martin/Sansen)
- 低压曲率校正带隙基准 — Rincon-Mora 曲率校正覆盖
- Chi-Wah Kok — 作者实体页
- Wing-Shan Tam — 合著者实体页