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TDC性能指标与误差分析
TDC 性能指标与误差分析 TDC（时间数字转换器）的性能指标体系与 ADC 既有共通之处（DNL/INL/ENOB/FoM），也有 TDC 特有的概念（SSP 单次精度、PVT 三组件分析）。本章基于 Henzler《Time-to-Digital Converters》Ch.3 系统化梳理。 前后关系 前置知识： TDC架构统一框架与VernierΣΔ方法 — TDC 架构分类 数字CMOS PLL架构与TDC-DCO设计 — TDC 基本概念 外部关联： 数据转换器基础 — ADC/DAC 性能指标体系对照 IC电磁兼容基础与耦合机制 — PVT 变化来源 纳米CMOS空间不可靠性与工艺...
Henzler Time-to-Digital Converters 深度解析
Henzler《Time-to-Digital Converters》全书全量深度解析 Stephan Henzler《Time-to-Digital Converters》(Springer Series in Advanced Microelectronics 29, 2010) 全书 6 章 + 参考文献全量深度解析。本书系统阐述 TDC 从基础概念到先进架构的全领域覆盖，包含大量 Henzler 本人在 Infineon 的首发研究成果。全书 ~288K 字符，132 页。 基本信息 项目内容书名Time-to-Digital Converters作者Stephan Henzler (...
TDC架构统一框架与VernierΣΔ方法
TDC 架构统一框架与 Vernier-ΣΔ 方法 时间数字转换器（TDC）将时间间隔的持续时间 tin 转换为数字字。本章（Brandonisio & Kennedy Ch.3）用 统一的单尺度/双尺度 ADC 框架 系统化描述 6 种 TDC 架构，并首次在文献中证明 Vernier 方法可以视为 ΣΔ 调制的一种特殊情况。 前后关系 前置知识： 数字CMOS PLL架构与TDC-DCO设计 — TDC 基本概念 ADPLL相位数字化架构 — ADPLL 中 TDC 的角色 反馈噪声整形与MOD1深度分析 — ΣΔ 调制基础 外部关联： Hybrid PLL架构与技术 — GRO...