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TDC性能指标与误差分析
TDC 性能指标与误差分析 TDC（时间数字转换器）的性能指标体系与 ADC 既有共通之处（DNL/INL/ENOB/FoM），也有 TDC 特有的概念（SSP 单次精度、PVT 三组件分析）。本章基于 Henzler《Time-to-Digital Converters》Ch.3 系统化梳理。 前后关系 前置知识： TDC架构统一框架与VernierΣΔ方法 — TDC 架构分类 数字CMOS PLL架构与TDC-DCO设计 — TDC 基本概念 外部关联： 数据转换器基础 — ADC/DAC 性能指标体系对照 IC电磁兼容基础与耦合机制 — PVT 变化来源 纳米CMOS空间不可靠性与工艺...
数据转换器测试方法与特性评估
Maloberti Ch.9 系统地介绍了数据转换器的完整测试框架：从 ATE 平台到静态测试（DNL/INL 提取），从动态测试（SFDR/THD/SINAD）到 FFT 频谱分析。其核心特色在于数学推导的完整性（最小二乘正弦拟合、直方图统计、频谱分析）和工程可操作性（测试环路设计、精度预算）。 1.