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模拟IC可靠性仿真方法
模拟IC可靠性仿真方法 本页面基于 Maricau & Gielen《Analog IC Reliability in Nanometer CMOS》(Springer, 2013) Ch.4+Ch.5 全量内容。覆盖 BERT 与文献综述、商业仿真器对比、确定性/随机/层次化三级可靠性仿真方法。 现有可靠性仿真器综述（Ch.4） BERT（Berkeley Reliability Tools） 最早也是最学术化的可靠性仿真器（1980s-90s 开发）。 模块结构： CAS 模块（Circuit Aging Simulator）：基于 HCI 模型评估电路老化 ΔNIT=C1[W...