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集成电路噪声分析
集成电路噪声分析 噪声是限制模拟电路分辨率、灵敏度和动态范围的根本因素。IC 中的主要噪声源包括热噪声（电阻和沟道中的随机载流子运动）、散粒噪声（pn 结中载流子越过势垒的随机性）和闪烁噪声/1/f 噪声（MOS 栅氧界面陷阱对载流子的随机俘获-释放）。Gray §7 系统介绍了从最基本的噪声模型到完整运放噪声分析的方法论，包括如何将各种噪声源等效为输入参考噪声电压/电流，以及如何优化给定偏置条件下放大器的信噪比。本文基于 Gray §7.1-§7.5 提炼。 前后关系 前置知识： 双极晶体管小信号模型（§1.4）— BJT 小信号参数 MOS晶体管模型与特性（§1.5-§1.6）— MOS ...